談?wù)?/span>回路電阻測(cè)試儀試驗(yàn)過(guò)程中可能會(huì)出現(xiàn)的問(wèn)題

回路電阻測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于電力行業(yè)。在實(shí)際的測(cè)試過(guò)程中也會(huì)遇到一些問(wèn)題。以下是回路電阻測(cè)試儀的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中可能出現(xiàn)的問(wèn)題的摘要。

目前，常規(guī)型接觸電阻測(cè)量廣泛用于電力系統(tǒng)的直流電橋，而這種電橋僅測(cè)試電流mA電平，很難找到電路導(dǎo)體的截面積以減少電路的缺陷。測(cè)量高壓開(kāi)關(guān)電路中的接觸電阻，由于油膜之間的接觸和氧化層的影響，幾倍的測(cè)量值較大，不能反映真實(shí)的接觸電阻。因此，電力部標(biāo)準(zhǔn)sd301-88《交流500KV電力設(shè)備切換及預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)定》和新版《電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)定》規(guī)定，斷路器的測(cè)得電流和隔離開(kāi)關(guān)的接觸電阻不應(yīng)小于dc 100A，以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。在按照常規(guī)設(shè)計(jì)原理設(shè)計(jì)的電路電阻測(cè)試儀的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中，發(fā)現(xiàn)一個(gè)普遍的問(wèn)題：當(dāng)測(cè)試儀的電壓接線電路接觸不良或斷路時(shí)，測(cè)試儀也會(huì)顯示一個(gè)值，并且將發(fā)生以下情況：

(1)電壓電路開(kāi)路，沒(méi)有強(qiáng)電場(chǎng)現(xiàn)場(chǎng)的干擾，在這種情況下，由于放大器輸入的差模電壓基本為零，所以?xún)x器根據(jù)測(cè)試值接近零，如果測(cè)試儀有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，可以判斷儀器電壓電路測(cè)試線是否異常，排除異常后排除電壓環(huán)路測(cè)試線，可以得到最終正確的測(cè)試結(jié)果;

(2)電壓回路接觸不良，大多數(shù)情況下斷路器的接線端子在長(zhǎng)期接觸后排異表面會(huì)產(chǎn)生氧化膜或成膜，當(dāng)電壓測(cè)試回路電阻測(cè)試儀夾住這樣的端子時(shí)會(huì)產(chǎn)生不良接觸，兩者電壓測(cè)試線夾本身會(huì)產(chǎn)生一定的接觸電阻，該接觸電阻與該電阻是電壓采樣電路，會(huì)嚴(yán)重影響測(cè)試結(jié)果。

(3)電壓電路破損或接觸不良(當(dāng)打開(kāi)可視接觸電阻R1無(wú)窮大時(shí))，具有較強(qiáng)的電磁干擾測(cè)試點(diǎn)，如母線帶電，此時(shí)母線的電容通過(guò)空氣介質(zhì)，測(cè)試電壓在兩線干擾測(cè)量設(shè)備中，由于干擾電壓的采集電路的影響，測(cè)試儀線路的兩端出現(xiàn)了差模電壓。

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